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「ナノトポグラフィ」検索結果
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1. 半導体ウェハ検査装置 | KOBELCO 神戸製鋼

Warpの計測が可能。 LNSWはナノトポグラフィーの計測が可能。 用途 研磨後の高精度平坦度測定、出荷検査 平坦度計 製品一覧 エッジ検査関連装置（エッジ形状、貼り合わせずれ、チッピング）

www.kobelco.co.jp/products/industry/semiconductor/wafer.html

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