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「結晶欠陥」検索結果

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極微量元素分析・クリーンルーム環境評価表面の結晶欠陥・構造欠陥ウェハ平坦度・エッジ形状測定など薄膜物性・構造評価各種構造・表面分析 HR-RBSによる高分解の薄膜解析デバイス・実装材等評価

www.kobelco.co.jp/products/industry/semiconductor/test.html

ライフタイムは、試料に混入した汚染や結晶欠陥等を鋭敏に反映する重要なパラメータです。取扱会社：株式会社コベルコ科研測定例ウェハ汚染によるライフタイム値の低下（青色部）ウェハ保持部の汚染

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